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差之毫厘,失之千里。光學薄膜制備作為精密制造領域之一,其精密程度常常達到納米甚至微納級別,因此,其制備復雜程度是不言而喻的,有時候微小的失誤會導致滿盤皆輸,為薄膜制備帶來巨大困難。
光學薄膜的制備是一個復雜的過程,它是通過將大塊固體材料蒸發(fā)或濺射,經(jīng)過氣相傳輸,最后在基板上凝結得到的,在其制備過程中,包括環(huán)境真空條件(真空度)、蒸發(fā)速率、基板溫度等多面的工藝因素的影響,對薄膜的微觀結構和化學成分與理想狀況出現(xiàn)較大偏差,最終導致薄膜的機械性能、抗激光損傷閾值、光學性能的變化。
在眾多的工藝影響因素中,影響最大且易觀察的往往是薄膜的厚度均勻性,其會嚴重影響薄膜的物理性能,根據(jù)制備經(jīng)驗,薄膜的厚度不均勻會導致薄膜光譜性能產(chǎn)生較大偏移,比如,在增透膜的制備過程中會導致薄膜的透射率偏低,其次他還會影響薄膜的激光損傷閾值、薄膜應力等等,正如文頭說到的:差之毫厘,失之千里。因此在薄膜制備設備中,往往都配有精確度極高的膜厚監(jiān)控系統(tǒng)。
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